發(fā)布時(shí)間：2022年08月16日               作者：德國(guó)GMC-I高美測(cè)儀（上海電勵(lì)士）

IV曲線測(cè)試儀測(cè)試下IV曲線測(cè)試目的

☆ 測(cè)量串開(kāi)路電壓（Voc）和短路電流（Isc）以及極性。

☆ Z大功率點(diǎn)電壓（Vmpp）、電流（Impp）和峰值功率（Pmax）的測(cè)量。

☆ 光伏組件/組串填充系數(shù)FF的測(cè)量。

☆ 識(shí)別光伏組件/陣列缺陷或遮光等問(wèn)題。

☆ 積塵損失、溫升損失，功率衰減、串并聯(lián)適配損失計(jì)算等

IV曲線測(cè)試儀測(cè)試下的IV曲線的基礎(chǔ)概念：

☆ Voc 開(kāi)路電壓

☆ Isc 短路電流

☆ Vmpp Z大功率點(diǎn)電壓

☆ Impp Z大功率點(diǎn)電流

☆ Pmax峰值功率

填充因子FF是太陽(yáng)能電池品質(zhì)的量度，定義為實(shí)際的Z大輸出功率除以理想目標(biāo)的輸出功率(Isc?Voc)， FF越大，太陽(yáng)能電池的質(zhì)量越高。FF的典型值通常處于60~85%，并由太陽(yáng)能電池的材料和器件結(jié)構(gòu)決定。

IV曲線測(cè)試儀--影響IV曲線的因素

☆ 輻照度越大，短路電流越大，輻照度對(duì)于開(kāi)路電壓影響不大

☆ 溫度越高，開(kāi)路電壓越小，溫度對(duì)短路電流影響不大

☆ 溫度一定的情況下，輻照度越高，組件輸出功率越大

IV曲線測(cè)試儀--組件的IV曲線分析

☆ STC狀態(tài)下的組件電參數(shù)

IV曲線測(cè)試儀測(cè)試的數(shù)值轉(zhuǎn)換到STC條件下的值和廠家出廠的datasheet值進(jìn)行對(duì)比才有意義

IV曲線測(cè)試儀--IV曲線測(cè)試步驟

☆ 確保待測(cè)組串和逆變器斷開(kāi)

☆ 被測(cè)試組串應(yīng)該隔離并連接到I-V曲線測(cè)試設(shè)備。

☆ 根據(jù)被測(cè)試組件的特性、類型和數(shù)量對(duì)測(cè)試儀器進(jìn)行設(shè)置。

☆ 與I-V 曲線測(cè)試儀相關(guān)的輻照度計(jì)應(yīng)安裝成與陣列平面匹配，并對(duì)其進(jìn)行檢查以確保其不受任何局部遮光或反射光的影響。

☆ 在使用參考電池裝置的情況下，應(yīng)對(duì)其進(jìn)行檢查，以確保其與被測(cè)陣列具有相同的電池技術(shù)，或者針對(duì)技術(shù)上的差異進(jìn)行適當(dāng)?shù)男拚?/span>

☆ I-V曲線測(cè)試儀使用的溫度探頭應(yīng)提前貼在組件背板，并且在朝向模塊中心的電池中心緊密貼合，同時(shí)檢查串Voc值在期望的范圍內(nèi)。

☆ 在輻照度達(dá)到儀器要求值并穩(wěn)定時(shí)開(kāi)始測(cè)試

IV曲線測(cè)試儀--IV曲線測(cè)試接線

注意事項(xiàng)：

☆ 參考組件和待測(cè)組件保持水平

☆ 背板溫度傳感器放置待測(cè)組件中心位置

☆ 輻照度不穩(wěn)定時(shí)或過(guò)低時(shí)會(huì)影響STC換算