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光伏電站IV曲線測試的目的:測量串開路電壓(Voc)和短路電流(Isc)以及極性;Z大功率點(diǎn)電壓(Vmpp)、電流(Impp)和峰值功率(Pmax)的測量;光伏組件/組串填充系數(shù)FF的測量;識別光伏組件/陣列缺陷或遮光等問題;積塵損失、溫升損失,功率衰減、串并聯(lián)適配損失計(jì)算等。
iv曲線測試儀的基礎(chǔ)概念:Voc開路電壓;Isc短路電流;Vmpp Z大功率點(diǎn)電壓;Impp Z大功率點(diǎn)電流;Pmax峰值功率。
IV曲線的基礎(chǔ)概念:填充因子FF是太陽能電池品質(zhì)的量度,定義為實(shí)際的Z大輸出功率除以理想目標(biāo)的輸出功率(Isc?Voc),F(xiàn)F越大,太陽能電池的質(zhì)量越高。FF的典型值通常處于60~85%,并由太陽能電池的材料和器件結(jié)構(gòu)決定。
影響IV曲線的因素:輻照度越大,短路電流越大,輻照度對于開路電壓影響不大。
溫度越高,開路電壓越小,溫度對短路電流影響不大;溫度一定的情況下,輻照度越高,組件輸出功率越大;組件的IV曲線分析:STC狀態(tài)下的組件電參數(shù)。
組件的IV曲線分析:IV曲線測試儀測試的數(shù)值轉(zhuǎn)換到STC條件下的值和廠家出廠的datasheet值進(jìn)行對比才有意義
IV曲線測試步驟:確保待測組串和逆變器斷開;被測試組串應(yīng)該隔離并連接到I-V曲線測試設(shè)備;根據(jù)被測試組件的特性、類型和數(shù)量對測試儀器進(jìn)行設(shè)置;與I-V曲線測試儀相關(guān)的輻照度計(jì)應(yīng)安裝成與陣列平面匹配,并對其進(jìn)行檢查以確保其不受任何局部遮光或反射光的影響。在使用參考電池裝置的情況下,應(yīng)對其進(jìn)行檢查,以確保其與被測陣列具有相同的電池技術(shù),或者針對技術(shù)上的差異進(jìn)行適當(dāng)?shù)男拚?br/> IV曲線測試步驟:I-V曲線測試儀使用電池溫度探頭時(shí),它應(yīng)與組件后部緊密接觸,并且在朝向模塊中心的電池中心,同時(shí)檢查并且串Voc值在期望的范圍內(nèi)。在輻照度達(dá)到儀器要求值并穩(wěn)定時(shí)開始測試。
IV曲線測試接線:注意事項(xiàng):參考組件和待測組件保持水平;背板溫度傳感器放置待測組件中心位置;輻照度不穩(wěn)定時(shí)或過低時(shí)會影響STC換算。
IV曲線評估:1、階梯或凹陷;2、低電流;3、低電壓;4、圓膝;5、豎直腿淺坡;6、水平腿陡坡。
IV曲線評估-階梯或凹陷:I-V曲線中的階梯或凹陷表示被測試的陣列或組件的不同區(qū)域之間的不匹配情況,可能會有如下情況引起:陣列或組件局部遮擋;陣列或組件局部污漬或以其他方式遮蔽(比如雪等);PV電池片/組件損壞;旁路二極管短路。
IV曲線評估-低電流:許多因素可以導(dǎo)致預(yù)期電流和測量電流之間的變化,這些總結(jié)如下
陣列原因:均勻污染;條紋遮擋(縱向組件);污垢壩(縱向組件);光伏組件劣化。
建模原因:PV組件數(shù)據(jù)輸入錯(cuò)誤;錯(cuò)誤地輸入多個(gè)并聯(lián)串。
IV曲線評估-低電壓:電壓變化的潛在原因包括以下陣列原因:旁路二極管導(dǎo)通或短路;光伏串的組件數(shù)量錯(cuò)誤;電勢誘導(dǎo)衰減(PID);對整個(gè)電池片/組件/組串有明顯的、均勻的遮擋。
建模原因:錯(cuò)誤地輸入PV組件數(shù)據(jù);錯(cuò)誤輸入串中的組件數(shù)目。
測量原因:PV電池溫度與測量值不同,IV曲線評估-圓膝:I-V曲線的膝蓋的倒圓可能是老化過程的表現(xiàn)。在得出結(jié)論之前,檢查I-V曲線的水平和垂直腿的斜率。如果它們已經(jīng)改變,則會在膝蓋的形狀中產(chǎn)生視覺上類似的效果。
IV曲線評估-豎直腿中的淺坡:Z大功率點(diǎn)(Vmpp)和Voc之間的I-V曲線的后一部分的斜率受到對被測電路的串聯(lián)電阻的影響。增加的電阻將減小曲線的該部分中的斜率的陡度。
串聯(lián)電阻增加的潛在原因包括:光伏配線損壞或故障(或電纜尺寸不足);組件或陣列互連處故障(連接不良);組件自身串聯(lián)電阻增加(電池片連接導(dǎo)致高阻或接線盒老化腐蝕)當(dāng)使用長電纜測試陣列時(shí),這些電纜的電阻將影響曲線形狀,并可能對曲線產(chǎn)生影響,建議使用四線法測量。
IV曲線評估-水平腿的陡坡:I-V曲線上部的斜率變化可能是由于;PV電池中的分流路徑;組件Isc不匹配;錐形陰影或污垢(例如污垢壩)。
如何利用IV曲線測試儀(光伏安規(guī)測試儀)快速定位問題組件:測量組串發(fā)現(xiàn)曲線有臺階;依次遮擋單個(gè)組件,短路電流會下降,但曲線臺階基本不變;當(dāng)遮擋到某個(gè)組件發(fā)現(xiàn)曲線正常時(shí),可判斷此組件有問題。